パナソニックのＨＩＴ太陽電池、ＰＩＤ耐性を実証

　パナソニックグループ・エナジー社（大阪府守口市）は同社製のＨＩＴ（ハイブリッド型）太陽電池モジュールについて、欧州最大の研究機関であるフラウンホーファー研究機構シリコン太陽光発電研究センター（ドイツ）の試験において、出力低下が起こりにくい「ＰＩＤ耐性」をもつことを実証した。

　太陽電池セルと接地するフレームとの間に高電圧がかけられた状態で高温多湿などの外部要因が加わると出力低下（ＰＩＤ）現象が起こりやすいとされる。一般的な結晶シリコン系では、セル表面の絶縁層が帯電してＰＩＤを引き起こすと考えられている。一方、両面を透明導電膜で覆い絶縁層を用いないＨＩＴの場合、そもそもＰＩＤが起こらない構造になっている。

　今回は１０台のＨＩＴ太陽電池モジュールを使い、摂氏５０度、相対湿度５０%、正・負の電圧１０００Ｖの条件下で４８時間試験を行ったところ、すべてのモジュールで出力が低下しなかった。